Получать уведомления на электронную почту, если появились:
Книги авторов
Подписаны
Книги издательства 2
Закрыть
Чтобы подписаться сообщите адрес электронной почты
Введите корректный адрес электронной почты
Подписаться 2 Вы подписаны 2

Фундаментальные основы анализа нанопленок

№ 10301017
Получать уведомления на электронную почту, если появились:
Книги авторов
Подписаны
Книги издательства 2
Закрыть
Чтобы подписаться сообщите адрес электронной почты
Введите корректный адрес электронной почты
Подписаться 2 Вы подписаны 2
30,21 руб.–10%
Вы экономите 3,36 руб.
Ваша скидка 10%
33,57 руб.
Уже в корзине
Под заказ. Поставка 21 декабря

Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных ксоставу и структуре твердых тел на нанометров ом масштабе.

Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимаются анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.

Название в оригинале Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
Издательство Научный мир
Год издания 2012
Страниц 392
Переплет Твердый переплет
Формат 70х100/16 (170х240 мм, увеличенный)
ISBN 978-5-91522-225-9
Вес 650 г
Изготовитель ООО «Издательство «Научный мир». 127055, г. Москва, Тихвинский переулок, д. 10/12, корп. 4, подъезд 2.
Импортер ООО «НТЦ АПИ», г. Минск, ул. Уманская, 54, пом. 1, каб. 34

Наверх

Вход

В течение нескольких секунд вам придёт SMS с одноразовым кодом для входа. Если ничего не пришло — отправьте код ещё раз.
Получите доступ к персональным скидкам и акциям, ускорьте оформление заказов.
Войдите с помощью своего профиля

Регистрация

Введите номер вашего мобильного телефона:
Войдите с помощью электронной почты или номера телефона
Войдите с помощью своего профиля

Восстановление пароля

Укажите адрес электронной почты, который вы использовали при регистрации
Нужна помощь? Звоните 695-25-25 (МТС, velcom, life:) или напишите нам

Восстановление пароля

Инструкции по восстановлению пароля высланы на 
Нужна помощь? Звоните 695-25-25 (МТС, velcom, life:) или напишите нам
Приходите в будние дни с 10 до 20, в субботу с 10 до 17. Воскресенье — выходной
695-25-25 МТС, velcom, life:)

Магазин OZ

Магазины OZ

Минск
Ещё 
В будние дни с 10 до 20
В субботу с 10 до 17
Воскресенье — выходной
695-25-25 МТС, velcom, life:)